Advantest將于3月20日至22日在SEMICON China展會上展示支持5G技術的最新IC測試解決方案和服務

　　東京, March 13, 2019 (GLOBE NEWSWIRE) -- 領先的半導體測試設備供應商Advantest Corporation(TSE: 6857)將于3月20日至22日在上海新國際博覽中心(SNIEC)舉辦的SEMICON China 2019展會上展示面向中國市場的十幾種最新、最先進的系統和服務。

　　產品展示

　　在N4展廳的4431展位，Advantest將通過現場產品演示及展示來展示其領先的測試解決方案。其中包括可提供支持AI技術的最新IC測試解決方案和服務的V93000可擴展平臺、將V93000平臺的功能擴展至可為汽車、工業和電源管理IC(PMIC)應用測試高級IC的FVI16浮動電源VI板卡、用于實驗室環境的B6700ES老化內存測試系統(帶有可用于生產測試系統的老化板)、高度靈活的T5830ES工程站(其Tester-per-Site™設計使其能夠在移動電子設備中使用的各種閃存設備上進行測試)、采用新的HVI(高壓VI板卡和測量)模塊的EVA100測量系統(將該平臺的功能擴展至可測試用于大型消費類應用的高功率IC)、用于系統級測試的T2000平臺以及使T2000系統能夠更有效地測試混合動力電動汽車和電動汽車動力傳動系中所使用裝置的MMXHE和RECT550EX模塊。Advantest還將展示一個獨特的汽車顯示屏，幫助參展者查看T2000系列測試系統的應用方式和位置，從而提高更多類型的汽車用電子設備(如傳感、控制、處理以及與電源相關的設備和模塊)的性能和可靠性。

　　此外，數字圖形顯示器將展示用于測量IC模具厚度以及IC封裝和印刷電路板的布線質量的TS9000系列太赫茲分析系統、用于測量下一代光掩模臨界尺寸(CD)的E3650掃描電子顯微鏡(SEM)和用于光掩模的E5610缺陷檢查SEM、用于1X-nm技術節點的F7000電子束光刻系統、用于顯示驅動器IC(DDI)的T6391測試儀、包括300mm NAND探針卡的設備接口及用于物聯網IC的V93000接口解決方案、可提供經濟高效的按需測試解決方案的創新CX1000P CloudTesting™工作站和基于云的解決方案以及使用人工智能技術提高設備綜合效率(OEE)的Advantest的一系列現場服務。

　　Advantest還將展示2月份從Astronics Corporation收購的半導體系統級測試業務。

　　贊助和演講

　　Advantest不僅是今年中國國際半導體技術大會(CSTIC)的贊助商，公司發言人還將在本次會議的兩個研討會上發表演講。Anil Bhalla將在3月18日在5D和5E會議室舉行的計量、可靠性和測試研討會上發表關于“汽車半導體測試策略的關鍵考慮因素”的演講。Yang Shang博士將在3月19日在5B和5C會議室舉行的包裝與裝配研討會上，講解一篇名為“通過遞歸電路建模在BEOL中進行高分辨率時域反射計分析”的論文。

　　3月19日，Advantest還將參加在5H會議室舉辦的高級晶圓級封裝，系統級封裝(SiP)和測試的勞動力發展培訓課程，并由Guangyu Yang主講“ATE對IC產業的重要性及其發展趨勢”。

　　此外，在3月21日于上海長榮桂冠酒店舉行的AI和半導體技術論壇上，Advantest部門經理Zhang Ke將介紹用于云計算和邊緣計算應用的AI設備的測試解決方案。

　　社交媒體

　　有關測試解決方案領導者的最新信息，請在Twitter上關注Advantest(@Advantest_ATE)。

　　關于Advantest Corporation

　　Advantest是世界一流的技術公司，是半導體行業自動測試設備(ATE)的領先生產商，同時也是電子儀器和系統設計和生產所使用測量儀器的主要制造商。公司先進的系統和產品已集成到世界上最先進的半導體生產線中。另外，公司還專注于受益于納米技術和太赫茲技術進步的新興市場的研發，并推出了對光掩模制造至關重要的多視覺計量掃描電子顯微鏡，以及突破性的3D成像和分析工具。Advantest于1954年在東京成立，于1982年在美國成立了第一家子公司，現在子公司遍及全球各地。如需了解更多信息，請訪問www.advantest.com。

　　ADVANTEST CORPORATION

　　3061 Zanker Road

　　San Jose, CA 95134, USA

　　Judy Davies

　　Judy.davies@advantest.com

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